专题征稿 |《光学学报（网络版）》启动“片上集成光谱检测与成像”特色专题
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片上集成光谱检测与成像突破了传统光谱系统体积庞大、操作复杂、价格昂贵的瓶颈，在高集成度和便携式应用等场景中，承担着物质定性定量分析、微观结构成像、多维度信息获取的关键功能。面对片上集成光谱系统在高光谱分辨率、高检测灵敏度、多模态成像融合、晶圆级批量制造、跨场景适配应用等方面日益严峻的技术挑战，亟需在器件设计、集成工艺、算法优化、系统应用等领域实现原始创新和技术突破。