【Light｜纳米X射线方向敏感暗场成像】💫近日，由Imke Greving团队（德国Helmholtz-Zentrum Hereon）联合多家欧洲研究机构完成的工作发表在《Light: Science & Applications》上，该研究首次将方向敏感暗场成像推进到纳米尺度全场透射X射线显微中，实现了对亚分辨纳米结构取向信息的提取。这一工作的实现既依赖巧妙的成像原理与实验设计，也离不开先进X射线光学元件的支撑。上海科技大学大科学中心齐鹏（Peng Qi）在PSI工作期间设计并制造了实验所需的关键元件。对于这样一项纳米尺度X射线成像工作而言，高性能光学元件并非配套，而是决定实验能否成功实现的关键基础。【点击链接阅读📖原文：http://t.cn/AXSeABCs】
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