【LAM | 巧用光学“缺陷”实现显微单步快速对焦】✨近日，国防科技大学的翟永平课题组在《Light: Advanced Manufacturing》上发表了研究论文。该研究针对光学显微成像领域中高动态目标追焦及百亿像素级全切片扫描成像面临的对焦难题，提出了一种革命性的解决方案。团队开发的SparseFocus方法，充分利用了非理想光学成像系统点扩散函数（PSF）不对称的固有 “缺陷”，仅需单次曝光（one-shot）即可精准估计离焦距离及方向，精度高达百纳米量级。【点击链接阅读📖原文：http://t.cn/AXxQgnV2】
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