【曲面微区X射线荧光光谱仪助力文物表面元素分析取得新突破】近日，高能所与故宫博物院合作，利用自主研发的曲面微区X射线荧光光谱仪（图1）在文物表面元素分析领域取得的新突破，实现了对曲面文物的表面自适应高精度荧光扫描成像。相关成果以“Applications of surface adaptive micro X-ray fluorescence scanner in cultural relics”为题，发表于《npj Heritage Science》期刊。http://t.cn/AXyukJ1h